GJB 4.11-83

本頁(yè)面標(biāo)準(zhǔn)信息均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)收集，或由參與標(biāo)準(zhǔn)制定的供應(yīng)商提供，只作為參考使用，為確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性、節(jié)省您的時(shí)間，如需GJB 4.11-83標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)信息或GJB 4.11-83具體測(cè)試方法，請(qǐng)與我們技術(shù)人員聯(lián)系或給我們留言，我們將為您提供相關(guān)的技術(shù)支持。

GJB 4.11-83是關(guān)于《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)》的方法。

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了艦船電子設(shè)備的元、器件或零部件的鹽霧試驗(yàn)。它是制訂艦船電子設(shè)備總技術(shù)條件或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。

1試驗(yàn)?zāi)康?/h3>

確定電子元、器件或零部件抗鹽霧腐蝕的能力。主要用以評(píng)定金屬保護(hù)層的質(zhì)量及其均勻性，特別適用于對(duì)類(lèi)似保護(hù)層進(jìn)行比較。

2對(duì)鹽霧試驗(yàn)箱的要求

2.1 箱（室）所用材料應(yīng)有抗鹽霧腐蝕的能力，不允許因材料腐蝕而影響試驗(yàn)效果；

2.2 箱（室）應(yīng)能夠調(diào)節(jié)到試驗(yàn)需要的各種條件；

2.3 箱（室）應(yīng)有足夠的容積，條件應(yīng)均勻穩(wěn)定，不因放置試驗(yàn)樣品而變化。試驗(yàn)參數(shù)要易于從箱（室）外控制。

2.4試驗(yàn)時(shí)，鹽霧不允許直接噴射到試驗(yàn)樣品上；

2.5 箱（室）頂、四壁或其他部分所凝結(jié)的水不允許低落在試驗(yàn)樣品上；

2.6箱（室）應(yīng)設(shè)有觀(guān)察窗及照明裝置，以便能觀(guān)察箱（室）內(nèi)試驗(yàn)樣品及溫度、沉降率等情況。